Ar-ge Projeleri

Itru Teknik Bülten 2.Çeyrek 2006
-1
Ar-ge Projeleri
Bugün tüm dünyada 21.yüzyıl ve ilerisi için çok kapsamlı çalışmalar yoğun bir şekilde sürmektedir.Bu nedenle
burada açıklanan ar-ge çalışmaları uluslar arası düzeyde yapılan çalışmalar incelenerek hazırlanmıştır.Bu projeler
uzun yıllar boyu ülkemizin çeşitli işletmelerinde yapılan mühendislik ve ar-ge çalışmaları sonucunda geliştirilmiş ve
ülkemiz tekstil sanayisinin 21.yüzyılda başarılı olmasına katkıda bulunulmasını sağlayacak bir biçimde
tasarlandırılmıştır.21.yüzyıla girerken ülkemiz tekstil sanayisinin uluslararası Pazarlarda rekabet gücünü arttırması
ve bu yarışta önde olabilmesi için
●Üretim maliyetlerinin düşürülmesi ve kalitenin iyileştirilmesi
●Yeni ürünleri rakiplerinden daha önce ve daha ucuza pazara sunabilmesi
●Tekstilde yeni innovation projelerini uygulaması
●Bilgi Tabanlı sistemleri kurmasına bağlıdır.
Bilgi Tabanlı kavramı gelişmiş ülkelerin ulusal politikalarıyla bütünleştirilmiş ve uluslar arası pazarda rekabetin en
önemli anahtarı olduğu vurgulanmıştır Buna ek olarak çok sayıda ar-ge projesinin uygulanmasına başlanılmıştır
.Çünkü tekstil sanayi emek yoğun bir sektör olmaktan çıkmış tamamen bilgiye dayalı bir sektör haline gelmiştir.Bu
nedenle ancak bilgiye yatırım yapan işletmeler ve ülkeler 21.Yüzyılda başarılı olabilecek ve ayakta
kalabileceklerdir. (http://www.itru.net/tr/btky.zip)
Itru Fibre Testers :(Pamuk Hasadından Kumaş Çıkışına Kadar Kontrol )
Test Sistemi
Tanımlamalar
Temel Birimler
Itru Fibre Tester UAK-1 SF
Pamuk Tek Lif İncelik /
Lif İncelik/Olgunluk ,Mikroner
Olgunluk Ölçüm Sistemi
Itru Fibre Tester UAK-1S
Lif/Şerit/Bez Yüzey
Analiz Bilgi Sistemi
Lif İncelik/Olgunluk ,Mikroner
Itru Fibre Tester UAK-1 +
Lif/Şerit/iplik Eğirme
Bilgi Teknolojisi Sistemi
Uzunluk,Kısa Lif %,Çok Kısa Lif %,Neps Yüzey,
Mukavemet ,Renk,Lif İncelik/Olgunluk ,Mikroner ,
Kontaminasyon ,Sarı Lif %,Tam Beyaz Lif %
Itru Fibre Tester UAK-1 ++
Lif/Şerit/İplik Eğirme
Bilgi Teknolojisi Sistemi
Uzunluk,Kısa Lif %,Çok Kısa Lif %,Neps
Yüzey,Mukavemet,Renk,Lif İncelik/Olgunluk
,Mikroner ,Kontaminasyon ,Sarı Lif %,Tam Beyaz
Lif %,Kirlilik% ,Temizlik%
Itru Fibre Tester -UAK-1S
Itru Fibre Tester -UAK-1+
Itru Teknik Bülten 2.Çeyrek 2006
-2
Itru Fibre Tester UAK-1 +Fibre/Sliver/Spinning Technology Information System
Itru-Lif Test Gereci UAK-1+(Itru Fibre Tester)tüm lif çeşitlerinin önemli lif parametrelerini ölçen,çok kapsamlı
olarak rapor eden,tekstil teknolojisine yeni terimler,tanımlamalar,çözümler getiren ve tamamen TÜRK
mühendislerince geliştirilen yeni bir sistemdir.
Ölçüm sistemi:
a)Lif /Şerit Elyaf Besleme ve Temizleme Sistemi
b)Ölçüm kafası ve materyal renklerine göre değiştirilebilen zemin plakaları
c)Ölçüm kafası tahrik sistemi
d)Pnömatik ,mekanik ve elektronik sistemler
e)Dijital Analiz Sistemleri
f)Pentium 4 Bilgisayar ,LCD Ekran ,Yazıcı,MS Windows OS ,
g)Fibre Tester ver 4.1.2 Yazılımlarından oluşmaktadır.
UAK-1+ şerit,materyal ve döküntüyü test ve analiz edebilen,tam otomatik bir Lif/Şerit Ölçüm ,Değerlendirme
Bilgi Sistemidir.Dünyada ilk kez hem hızlı hem de şerit,materyal ve döküntüyü tam otomatik olarak ölçebilen ilk ve
tek sistemdir.Özellikle şeritlerin ölçülmesinde şeritlerin yönlerinin bozulmadan ölçülebilmesi önemli bir
gelişmedir.UAK-1+ elektronik,pnömatik,mekanik sistemleri en basit ve en ileri düzeyde kullanarak geliştirilmiş bir
TÜRK MÜHENDİSLİK HARİKASIDIR.
Sistemlere Eklenebilen Ek Seçenekler :
Açıkla Modül
malar
#
Temel Sistemlere Eklenebilen Ek Birimler
+
M+1
+ Neps Lif Yapısal,Neps Tülbent
+
M+2
+Yüzey Hasarlı Lifler Dağılım Aralık % (SDFR%), Lif Paralelleşme CV LP%,
+
M+3
+Kütle Spektograf (Şerit İplik Kontrol Lif değerlerinden)
+
M+4
+UV Neps %
+
M+5
+100 %Sentetik ve Renkli Materyal Ölçümü (Uzunluk, Neps, Renk, CVFP% ,SDFR%)
+
M+6
+Harman Karışım % Analizleri
+
M+7
+Fibre Mix Selection,Bale Management,Comber Data Yazılımları
+/S
M+S1
İplik Kesit Harman Karışım %Analizleri
+/S
M+S2
Dijital Temizleme ve Bez Lif Tam Beyaz Noktalar %Çevrim Algoritması
+/S
M+S3
Gerçek Mikroner Dağılım Histogramı
+/S
M+S4
UV Analizleri (UV %;UV Tam Beyaz Noktalar %,UV Olgun Olmayan Lif %)
+/S
M+S5
Kirlilik %,Temizlik%
+/S
M+S6
Dijital Boyama ve Renk Analizleri
S
MS1
Renk ve Neps Yüzey
S
MS2
Kontaminasyon(Çepel +Çekirdek +Toz),Yabancı Madde %, Gevşek Lifler Analizi (Tam Beyaz
Lifler +Sarı Lif %)
+
M+
Yalnızca UAK-1 +a eklenebilen ek birimler
+/S
M+S
UAK-1 S ve UAK-1 + her iki sisteme de eklenebilen ek birimler
S
MS
Yalnızca UAK-1S e eklenebilen ek seçenekler
Itru Teknik Bülten 2.Çeyrek 2006
-3
Itru Fibre Tester UAK-1 +Sisteminin Diğer Sistemlere Olan Üstünlükleri
Hiçbir test sisteminde bulunmayan Yeni
✔Yeni Loose Fibres %(Gevşek Lifler )ölçümü (Sarı
Terimler ve Tanımlamalar
Lif %+Tam Beyaz Lif %)
✔ Yalnızca 2 Testle 88 den fazla Parametre
✔İşletme sorunlarının çözümüne yönelik uygulamalar
✔Hangi bölgede hangi pamuğun ekimi ve hangi
✔Yeni UV analizleri ile Boya Almadaki renk
pamuğun hangi proseste işlenebileceği
dalgalanmalarının ve Tam Beyaz Lekelerin
✔ Hızlı ,Tam otomatik Besleme ve Temizleme
harmandan saptanması
✔Kapsamlı Raporlar ve tüm testlerin ve imgelerin veri
Sistemleri
✔Kalibrasyon Yok,Tartım Yok ,Temizlik Yok ,
tabanında kayıtları
✔ Harmanın Seçimi,Sınıflandırılması,Prosesi
Kondisyonlama Yok
✔ Doğrudan Dijital Ölçüm
,Liflerin ve Proseslerin Kontrolü ve iyileştirilmesi
✔ Pamuk Hasadından Ring Çıkışına Kadar Tüm
✔ Yeni Neps Ölçüm ve değerlendirme Sistemleri
Proseslerin ve makinelerin kontrolü
(Neps Lif Yapısal Değişim,Neps Tülbent ,Neps
✔Kapsamlı Renk Analiz Sistemiyle Lotlar arası Renk
Yüzey , Neps UV %)
✔ Yeni Uzunluk Ölçüm ve değerlendirme sistemleri
Karşılaştırılması Renk Histogramları
✔ Türkiye’de ve Dünyada İLK VE TEK
✔ Yeni Renk ölçüm sistemi
ARAŞTIRIN KARŞILAŞTIRIN
(Beyazlık,Koyuluk,Açıklık ,Sarılık )
✔ Yeni Lif incelik ve Olgunluk Ölçüm Sistemleri
21. Yüzyılın İşletmeleri 21.yüzyılın sistemlerini
✔ Yeni Lif Paralelleşme CV % ve Hasarlı Lif
uygular.
%Ölçümü
✔
Itru Fibre Tester UAK-1 +ın diğer Sistemlerle Karşılaştırılması:
Terimler
Uzunluk ve
Kısa Lif %
UAK-1+
HVI ve diğerleri
-Histogram,Staple
Diyagram
,Fibre Graph ve Fibre Density
Grafikleri ve bunların parametreleri
-Kısa Lif % Hem Kütlesel hem
sayısal
-Çok Kısa Lif %,Leff Kısa Lif %
-Mode
Median
,Skewness
,Kurtosis ,CVN % Örnekler
arasındaki
farkı
bulmanızda
sizlere yardımcı olur.
-Uzunlukla ilgili 3 değil 20 den
fazla parametre .
-Uzunlukla 1 değil 4 grafik
-Aynı
Staple
Diyagramında
birden fazla prosesin grafiği
-HEPSI BIR ARADA ALL IN
ONE
-HVI Fibrograph eğrisini Staple Diyagramına çevirin
aynı elyafın başka bir test sistemindeki Staple
Diyagramını elde edin.Birbiriyle ne kadar uyumlu
kontrol edin.
-HVI da Reaktif Siyaha Boyalı Pamuk elyafını ölçebilir
misiniz ?
-HVI da Len ,UNF ve SFI değerleri yakın olan pamuklar
arasındaki farkı nasıl bulabilirsiniz?
-HVI da SFI <3,5 olan pamukların arasındaki farkı nasıl
bulabilirsiniz?
-Eğer bir ölçüm sistemi Lif Uzunluklarının ölçümünü tek
bir lifin hava akımında lif ucu ve lif sonu arasındaki
geçen süreyi ölçüp bunu hava hızıyla çarparak dolaylı
olarak buluyorsa:düşük mikronerli ve yüksek mikronerli
pamuklar aynı boyda bile olsalar aynı hızda mı hareket
ederler ? Staple Diyagramları kütlesel olarak çizdiğini
iddia eden bu sistemlerde Penye Telef % sini Vatka
Staple Diyagramından bulabiliyor musunuz?
-Tarak Giriş ve Tarak Çıkış SFN %lerini ölçün.
Renk
-Tüm istatistiksel değerler
-Beyazlık, Sarılık ,Açıklık
,Koyuluk ,
-Renk Histogramı
-Gerçek Karşılaştırma
-Yalnızca Rd ve +b .Pamuğun içinde tek bir renk mi var ?
-Ölçtüğünüz numunenin içine bir miktar çepel katıp rengi
tekrar ölçün.
Döküntü Analizi
Kullanılabilir Lif %
Döküntüyü Trash Count ,Area için test edebilir misiniz ?
Kontaminasyon
-NLC %(Çepel +Çekirdek +Toz) -HVI da çekirdek ve toz % değerleri bulunuyor mu?
Itru Teknik Bülten 2.Çeyrek 2006
Terimler
UAK-1+
-4
HVI ve diğerleri
% ve Yabancı Madde %
-Sarı Lif %,Tam Beyaz Lif %
-Harman Hallaç +Tarak Döküntü
%
-Trash Count ve Area %lerini harman ve tarak giriş
olarak karşılaştırdığınızda ne kadar fark var ?
-Harman-Hallaç +Tarak Döküntüsü toplamını yalnızca
çepel % mi etkiler ?
Mikroner
- Mikroner Dağılım(ug/inch)
Tartım Yok ,Temizlik Yok,
Rutubetten ,Çepelden etkilenme
Yok.Yalnız mikronerin tek değeri
değil
dağılım
aralığı
ve
istatistiksel değerleri
Pamuk liflerinin hepsi aynı çapta ve aynı yüzey alana mı
sahip ,bunların bir değişim aralığı yok mu?Penye
telefinin ve harmanın mikroner değerleri neden
birbirinden farklı ?Pamuk içine bir miktar çepel katıp
yeniden ölçün.Fırında kurutup ölçün.Nemlendirip
ölçün.Boyayıp ölçün.Farkları görün..
Lif incelik ve
Olgunluk
-Lif incelik ve olgunluk dağılımı
-Doğrudan Ölçüm
HVI da hesapla bulunan Maturity ile diğer sistemlerde
ölçülerek bulunan Maturity arasındaki korelasyon nedir ?
Mukavemet
Özel
algoritma
yoluyla -Short Weak Cotton a göre kalibre edip ölçün
bulunmaktadır.Presley 1/8 in
-Long strong Cotton a göre kalibre edip ölçün
R=0,94
-Pamuğu nemli olarak ölçün.Presley 1/8 inch e göre R=?
nedir?
Neps
Kapsamlı Neps Analizi:Neps
Map ,Neps Tülbent,Neps Yüzey
, Neps UV %terimleri Neps
Map Penye Şeridi ve Neps/1 km
iplik R=0,99
Neps /gram .Penye Şeridi Neps /Gram ile iplik Neps /1
km arasındaki korelasyon katsayısı nedir ?Hava akımları
nedeniyle kümeleşen lifler gerçekten neps midir ?
İplikteki Nepslerin gerçek nedeni nedir? A Pamuğunun
Neps /Gram değeri B Pamuğundan düşük çıkmasına
rağmen iplikte bunun neden tersi olabiliyor ?Proses
Nepsleri ve Hammadde Nepsleri arasındaki farklar
nelerdir ?
UAK-1 +ARTILARI -HVI ve benzerlerinde olmayanlar
CV %Lif
Paralelleşme
Proses Optimisazyonunda Anahtar Parametre Tarak ve sonrası proseslerde Proses iyileştirme
Çalışmaları CV %Lif Paralelleşme olmadan gerçek anlamda yapıla bilinir mi ?Bu
proseslerin temel işlevi lifleri paralel (eşit konumlandırmak) hale getirmek değil midir ?
SDFR %
Yüzey hasarlı lifler pilling ve beyaz noktalara neden olabilir Tüm prosesler lif yüzeysel
yapısına hasar verebilirler. Bu hasarlanmaları ölçmeden prosesleri nasıl kontrol
altına alabilirsiniz?HVI yada benzerlerinde bu terim var mıdır ?
Kirlilik ve Temizlik
%
Materyal Proses aşamalarında kirlenebilir ve bu önemli sorunlara neden olabilir
Kirlilik ve Temizlik ölçümlerinin önemini boya almada karşılaşılan sorunlardan sonra mı
dikkat etmek gerekir?
UV Analizleri
Yüksek Mikronerli ve Yüksek Olgunluk değerlerine sahip olan pamuklar da abraja neden
olabilir Abraj hataları müşteriden şikayet geldikten sonra çözülebilir mi?
Mikroner Histogramı Pamuk içerisinde birden fazla orijin olabilir HVI ve benzerleri size bu konuda bilgi
verebilirler mi ?
Staple
Diyagram
Tarak Şeridi ve Tarak Şapka Telefinin Staple Diyagramlarını aynı grafikte görebilirsiniz
Şeritlerin yönlerini bozmandan parçalamadan lifleri kırmadan ölçebilir misiniz?
Uygulama
Alanı
HVI döküntüyü test edebilir mi?Şeritlerin yönlerini bozmadan ölçebilir mi?
Teknik Bilgi
:http://www.itru.net/teknik dizininden pdf dosyalarını indirebilir ,demo cd isteyebilir yada
örnek raporları edinebilirsiniz : E-Posta: info@itru.net Tel:0212- 657 56 92 Fax:0212-630 09 39
Satış ve Sipariş : Itru Türkiye Distribütörü -Egem Elektronik : Tel : 0232-459 59 00